輪廓儀

         FTS Intra 既可以通過PDA 控制處理器攜帶到任何工作場合去工作，控制分析單元對驅動單元可連線控制，也可紅外遙控；也可以通過與電腦的對接，測量的數據直接傳輸至計算機，由 Ultra 軟件對儀器進行控制及對測量數據的分析。作為標準計量室內的檢測設備。

        我們可以非常容易地把它從計量室帶到工作地點，即使是臨時的操作員也可以非常簡單地進行操作，并得到測量結果。當然，由于設計，簡而易行的操作，您幾乎不用妨礙到生產的進度，就可以完成這些您所需要的表面形狀與粗糙度的檢測。

輪廓儀

[主營產品]fischer膜厚儀,粗糙度儀,激光干涉儀，三維掃描儀

便攜式粗糙度儀輪廓儀圓度儀

Surtronic 25 便攜式粗糙度儀（已停產）車間型精密粗糙度輪廓儀Form Talysurf Intra565/585XL

Surtronic DUO 粗糙度儀全自動光學輪廓儀PGI DimensionTalyrond 595H

Surtronic S-100系列泰勒霍音森Form Talysurf ilTalyrond 565H

Surtronic S-116泰勒霍普森白光干涉儀CCIMP Talyrond 400H

Surtronic S-128泰勒霍普森Form Talysurf PGITalyrond 450

Surtronic 3+ / Surtronic 3 Plus（早已停產）光學輪廓儀Talysurf PGI OpticsSurtronic R100

粗糙度儀配件英國Taylor Hobson PGI Matrix Talyrond 131c

 泰勒LuphoScan 260/420 HDSurtronic R50-R80

 Form Talysurf PGI NOVUSTalyMaster

  Talyrond 130

CCI HD 非接觸式光學3D輪廓儀簡介

CCI HD 是一種非接觸式光學 3D 輪廓儀，具有測量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有新型關聯算法，來查找由我們的精密光學掃描裝置產生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界專業的非接觸式尺寸測量功能和專業的厚薄膜測量技術。

CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測量功能，還可以提供兩種類型的膜厚測量。 近年來厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料；測量的厚度限制取決于材料的折射率和標的物的 NA。 測量較薄的涂層被證實為難度更高。

現在通過干涉測量法可以研究厚度至 50 納米（同樣取決于折射率）的薄膜涂層。 采用這種新型方法，可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。