菲希爾鍍層測(cè)厚儀XDAL

菲希爾鍍層測(cè)厚儀XDAL

菲希爾x-ray射線(xiàn)熒光光譜鍍層材料分析儀

x射線(xiàn)厚度測(cè)試儀

菲希爾鍍層測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237設(shè)計(jì)理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237菲希爾鍍層測(cè)厚儀是一款界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器。它裝備了高精度，可編程運(yùn)行的 工作臺(tái)和電調(diào)的軸升降系統(tǒng)，是進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量的理想儀器。菲希爾鍍層測(cè)厚儀當(dāng)保護(hù)門(mén)開(kāi)啟時(shí)，工作臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到放置樣品的位置。通過(guò)激光光點(diǎn)，可以輔助定位并快速對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大能，可以精-確定位測(cè)量位置。通過(guò)視頻窗口，還可以實(shí)時(shí)觀(guān)察測(cè)量過(guò)程和進(jìn)度。位置的精-確微調(diào)可以直接手動(dòng)調(diào)整儀器或搖桿，或通過(guò)操作鼠標(biāo)和鍵盤(pán)來(lái)現(xiàn)。測(cè)量箱底部的開(kāi)槽是專(zhuān)為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)，由此儀器就可以測(cè)量比測(cè)量箱更長(zhǎng)和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。所有的操作，量數(shù)據(jù)的計(jì)算，以及測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示都是通過(guò)強(qiáng)大而界面友好的 軟件在電腦上完成的。

菲希爾測(cè)厚儀憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)（可選）與自上而下的測(cè)量方向，XDL系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線(xiàn)源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線(xiàn)儀器。在設(shè)計(jì)上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL菲希爾測(cè)厚儀型儀器和XDLM型儀器相對(duì)應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測(cè)器類(lèi)型不同。在XDAL上，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測(cè)器，從而有了遠(yuǎn)好于XDLM使用的比例計(jì)數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺(tái)儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測(cè)量薄鍍層厚度。

菲希爾測(cè)厚儀X射線(xiàn)源是一個(gè)能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線(xiàn)管。然而，由于相對(duì)較小的探測(cè)器有效接收面積(相比較比例計(jì)數(shù)器探測(cè)器來(lái)說(shuō))，信號(hào)強(qiáng)度低，故XDAL有限適用于極微小結(jié)構(gòu)和測(cè)量點(diǎn)的測(cè)量。和XDLM類(lèi)似，準(zhǔn)直器和基本濾片是可自動(dòng)切換，以便為不同測(cè)量程式創(chuàng)造良好的激勵(lì)條件。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測(cè)量空間寬大，可以用于測(cè)量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置z高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計(jì)可以方便地測(cè)量諸如印刷線(xiàn)路板等大平面樣品。