M400測(cè)量性能方面無(wú)導(dǎo)塊高精度測(cè)量：采用無(wú)導(dǎo)塊的高精度探頭系統(tǒng)，能有效避免導(dǎo)塊對(duì)測(cè)量的影響，尤其適用于 P 輪廓和波紋度參數(shù)測(cè)量，可實(shí)現(xiàn)更精準(zhǔn)的表面粗糙度測(cè)量。多種參數(shù)測(cè)量：支持超過(guò) 50 種 R、W 和 P 表面參數(shù)測(cè)量，涵蓋了 ISO、JIS、ASME 等標(biāo)準(zhǔn)的常用粗糙度參數(shù)，能滿足不同行業(yè)、不同測(cè)量需求。高測(cè)量速度與密度：在保持單測(cè)量取點(diǎn)密度不變的情況下，提高了測(cè)量速度，可有效節(jié)省測(cè)量時(shí)間，提升工作效率。自動(dòng)選擇參數(shù)：可以根據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)選擇截止和掃描長(zhǎng)度，減少了人工設(shè)置的誤差和繁瑣操作，提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和一致性。