菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL220特點(diǎn):      

◆ 具有通用應(yīng)用特性的高級(jí)模式  

◆ 4 倍電子調(diào)節(jié)光圈（準(zhǔn)直儀），6 倍電子調(diào)節(jié)初級(jí)濾光鏡 

◆ 配備高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD) 的型號(hào)還適用于更復(fù)雜的多元素分析

◆ 由下至上的測(cè)量方向可以簡(jiǎn)便地實(shí)現(xiàn)樣品定位  

典型應(yīng)用領(lǐng)域:  

◆ 對(duì)電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個(gè)納米的功能層進(jìn)行分析  

◆ 示蹤原子法分析為消費(fèi)者提供保護(hù)，例如，玩具中的鉛含量 

◆ 在珠寶行業(yè)和手選工段中最高精度要求的金屬合金鑒定 

◆ 在高校和工業(yè)領(lǐng)域中的研究